Docente
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PISA STEFANO
(programma)
FONDAMENTI DI MISURE A MICROONDE: Richiami sulla teoria delle linee di trasmissione, sulle strutture guidanti e sulla matrice di scattering di reti N porte. Richiami sulle grandezze e i parametri caratteristici dei circuiti a microonde. Richiami sulla teoria per la valutazione dell’incertezza delle misure.
ANALIZZATORE DI RETI: Analizzatore di reti scalare e vettoriale (VNA) struttura e funzionamento, calibrazione dell’analizzatore di reti, tecniche di calibrazione SOLT, TRL,
ANALIZZATORE DI SPETTRO: struttura e funzionamento, parametri degli analizzatori di spettro.
MISURE SU RISONATORI: misura di modi in cavità, fattore di qualità ed accoppiamento.
MISURE NEL DOMINIO DEL TEMPO: misure dirette ed indirette, filtraggio temporale (gating).
MISURE DI CAMPO: misuratori di radiazione, misuratori di campo elettrico, misuratori di campo magnetico, misure di campo a banda stretta.
LABORATORIO
Misure, utilizzando il VNA, di
- dispositivi a 1-porta: elementi concentrati R-L-C, risonatori, antenne;
- dispositivi a 2-porte: attenuatori, cavi, guide d’onda, filtri e amplificatori;
- dispositivi a 3-porte: divisori di potenza, circolatori;
- dispositivi a 4-porte: accoppiatori direzionali;
- riflettometria nel dominio del tempo
Misure, utilizzando lo SA, di
- oscillatori
- segnali modulati
- campo a banda stretta.
Note distrubuite dal docente
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