Insegnamento: 1052015

ELECTRON MICROSCOPIES AND RELATED TECHNIQUES
Codice	1052015
Corso di laurea	Ingegneria delle Nanotecnologie - Nanotechnology Engineering
Programmazione per l'A.A.	2020/2021
Curriculum	Nanotechnology Engineering (percorso valido anche ai fini del conseguimento del doppio titolo italo-venezuelano) - in lingua inglese
Tipo di attestato	Attestato di profitto

Modulo: SCANNING PROBE MICROSCOPY

Lingua

ENG

Corso di laurea

Ingegneria delle Nanotecnologie - Nanotechnology Engineering

Programmazione per l'A.A.

2020/2021

Curriculum

Nanotechnology Engineering (percorso valido anche ai fini del conseguimento del doppio titolo italo-venezuelano) - in lingua inglese

Anno

Primo anno

Unità temporale

Secondo semestre

Tipo di attestato

Attestato di profitto

Crediti

3

Settore scientifico disciplinare

FIS/01

Ore Aula

10

Ore Laboratorio

20

Ore Studio

-

Attività formativa

Attività formative caratterizzanti

Canale Unico

Docente	PASSERI DANIELE (programma) Fondamenti di AFM e SPM: 6 ore Introduzione alla microscopia a scansione di sonda (SPM) Microscopia a forza atomica (AFM): generalità AFM contact mode AFM tapping mode & phase imaging Tecniche avanzate basate su AFM: 14 ore Caratterizzazioni meccaniche mediante AFM Caratterizzazioni elettriche mediante AFM Caratterizzazioni magnetiche mediante AFM Lezione di approfondimento: Microscopia acustica a forza atomica (AFAM) Tomografia mediante AFM Microscopia ad effetto tunnel (STM) : 6 ore Scanning near-field optical microscopy (SNOM) : 2 ore Tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) : 1 ore Litografia mediante AFM : 1 ora Slide fornite dal docente Fundamentals of scanning probe microscopy (V.L. Mironov)
Date di inizio e termine delle attività didattiche	22-02-2021 - 28-05-2021
Date degli appelli	Date degli appelli d'esame
Modalità di erogazione	Tradizionale
Modalità di frequenza	Non obbligatoria
Metodi di valutazione	Prova scritta Prova orale

Modulo: ELECTRON MICROSCOPIES