Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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1042017 -
MICROONDE
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Conoscere e comprendere gli aspetti metodologici legati alle problematiche inerenti la propagazione guidata
CAPACITÀ APPLICATIVE. Saper applicare le proprie competenze all’analisi ed alla sintesi di strutture guidanti operanti in regime di alta frequenza AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Essere in grado di sviluppare modelli analitici e numerici atti ad interpretare la propagazione del campo EM in strutture guidanti e risonanti a microonde ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Saper comunicare in maniera efficace con specialisti e non specialisti di problematiche tecniche legate alla propagazione guidata CAPACITÀ DI APPRENDERE. Saper attingere a fonti bibliografiche e testi specialistici in lingua italiana e inglese al fine di approfondire ed incrementare la conoscenza nel settore |
9 | ING-INF/02 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ITA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
10589760 -
COMPONENTI ELETTRONICI INTEGRATI
(obiettivi)
Lo studente
1 si appropria delle nozioni di base per comprendere i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti a semiconduttore di base 2 valuta i limiti delle tecnologie di base 3 acquisisce le metodologie che guidano lo scaling alla Moore e portano alle soluzioni proposte per superarli allo stato dell’arte 4 studia i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti allo stato solido nei nodi tecnologici attuali |
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COMPONENTI ELETTRONICI INTEGRATI
(obiettivi)
Lo studente
1 si appropria delle nozioni di base per comprendere i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti a semiconduttore di base 2 valuta i limiti delle tecnologie di base 3 acquisisce le metodologie che guidano lo scaling alla Moore e portano alle soluzioni proposte per superarli allo stato dell’arte 4 studia i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti allo stato solido nei nodi tecnologici attuali |
3 | ING-INF/01 | 18 | 12 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ITA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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COMPONENTI ELETTRONICI INTEGRATI
(obiettivi)
Lo studente
1 si appropria delle nozioni di base per comprendere i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti a semiconduttore di base 2 valuta i limiti delle tecnologie di base 3 acquisisce le metodologie che guidano lo scaling alla Moore e portano alle soluzioni proposte per superarli allo stato dell’arte 4 studia i modelli elettrici e elettronici che governano il funzionamento dei componenti allo stato solido nei nodi tecnologici attuali |
6 | ING-INF/01 | 36 | 24 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ITA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
10589837 -
COMMUNICATION THEORY AND ENGINEERING
(obiettivi)
GENERALI L’obiettivo del corso di Comunicazioni Elettriche II è quello di fornire conoscenze avanzate relative al dimensionamento di sistemi di comunicazione, analizzando in particolare le tematiche relative alla misura dell’informazione e teoria dell’informazione, alla codifica di sorgente e a quella di canale. Il corso ha inoltre l’obiettivo di introdurre a schemi di modulazione avanzati adottati in reti di quarta e quinta generazione. SPECIFICI • Conoscenza e capacità di comprensione: teoria dell’informazione, codifica di sorgente e di canale. Capacità di canale per il singolo collegamento e per sistemi ad accesso multiplo • Capacità di applicare conoscenza e comprensione: analisi dell’informazione trasferibile in sistemi di comunicazione, selezione degli algoritmi di codifica di sorgente e di canale e scelta dei loro parametri. • Autonomia di giudizio: capacità di affrontare un progetto di dimensionamento di un collegamento identificando vincoli e obiettivi imposti sugli indici prestazionali, individuando la soluzione più efficiente per ciascuno dei blocchi della catena che congiunge sorgente e destinazione. • Abilità comunicative: N/A • Capacità di apprendimento: acquisire le conoscenze che permetteranno nel seguito della carriera l’analisi e il confronto di sistemi e reti di comunicazioni in termini di capacità e informazione trasferita |
9 | ING-INF/03 | 54 | 36 | - | - | Attività formative affini ed integrative | ENG | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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10589407 -
DIGITAL INTEGRATED SYSTEM ARCHITECTURES
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Circuiti digitali VLSI, progettazione RTL, VHDL, architetture di microprocessori
CAPACITÀ APPLICATIVE. Progetto di circuiti digitali, sintesi su FPGA/ASIC, progetto/programmmazione di microprocessori AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Valutazione delle scelte progettuali e delle tecnologie da utilizzare. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Stesura di specifiche e modelli simulabili. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Qualsiasi successivo approfondimento su circuiti digitali, architetture e programmazione.
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OLIVIERI MAURO
(programma)
NOZIONI E CONCETTI GENERALI
Gli effetti dell’evoluzione tecnologica, Alternative di realizzazione fisica, Nozioni sul layout dei circuiti integrati, Analisi dei costi di produzione dei sistemi integrati IL FLUSSO DI PROGETTO Livelli di astrazione, Diagramma a Y, Strumenti di analisi e verifica del progetto UN LINGUAGGIO PER LA SIMULAZIONE E LA SINTESI DIGITALE Introduzione, Oggetti trattati in VHDL, Modellazione di ritardi, Statement concorrenti, I processi in VHDL, Costrutti di controllo sequenziale nei processi, Procedure e funzioni, Package e librerie, Descrizioni strutturali, Cenno ad altri costrutti potenzialmente utili PROGETTO REGISTER TRANSFER LEVEL DI SISTEMI EMBEDDED “HARDWIRED” Il progetto (sintesi) Register Transfer Level (RTL), Esempio di progetto: un filtro di estrazione contorni per elaborazione di immagini, Approfondimenti sulla temporizzazione (timing) PROGETTO REGISTER TRANSFER LEVEL DI SISTEMI EMBEDDED PROGRAMMABILI Specifica di un microprocessore molto elementare, Progetto RTL del microprocessore, Approfondimenti sulla implementazione del control path, Le leggi quantitative delle prestazioni di un sistema digitale MECCANISMI E POLITICHE DI COMUNICAZIONE NEI SISTEMI INTEGRATI Le problematiche alla base, Comunicazioni on-chip: dai bus alle network-on-chip, Comunicazioni off-chip: l’evoluzione degli standard CONCETTI FONDAMENTALI SULLE MICROARCHITETTURE DEI PROCESSORI Richiami e concetti generali, Regole dell’approccio RISC, Concetti generali sulle architetture post-RISC, Cenni sulle architetture superscalari, Architetture VLIW CIRCUITI COMBINATORI PER MICROPROCESSORI E SISTEMI AD ELEVATE PRESTAZIONI Approfondimenti sui principi delle logiche CMOS, Logica CMOS statica convenzionale, Logiche pseudo-NMOS e DCSVL, Logica a pass-transistor, Logiche dinamiche CIRCUITI DI MEMORIA NEI SISTEMI INTEGRATI Latch e flip flop , Strutture circuitali per memorie STRUTTURE CIRCUITALI PER LA TEMPORIZZAZIONE E IL CONTROLLO DELLE OPERAZIONI Strategie di temporizzazione a livello circuitale, Struttura PLA classica, Un caso di studio di struttura circuitale dedicata SOTTO-SISTEMI DI ELABORAZIONE ARITMETICA Introduzione, Strutture di addizionatori veloci, Strutture di moltiplicatori, Altre unità funzionali fondamentali OTTIMIZZAZIONE DELLE PRESTAZIONI DI VELOCITÀ DEI CIRCUITI LOGICI Introduzione, Un nuovo modello di ritardo delle logiche CMOS, Modello di ritardo e ottimizzazione di logiche multi-stadio, Modellazione del ritardo di unità funzionali complesse ELEMENTI BASILARI DI PROGETTAZIONE A BASSO CONSUMO Richiami e concetti introduttivi, Modelli del consumo dei circuiti CMOS, Tecniche di stima dei consumi, Tecniche basilari di progetto a basso consumo CONCETTI FONDAMENTALI DI PROGETTAZIONE ASINCRONA Nozioni generali di base, Componenti e metodologie per i sistemi self-timed, Unità funzionali dedicate a sistemi con controllo self-timed M. Olivieri, “Elementi di Progettazione dei Sistemi VLSI. Volume II: Architetture, Circuiti e Metodi”. Edizioni EDISES, Napoli. Errata corrige relativo al libro: http://vlsi.die.uniroma1.it/Errata_Corrige_VLSI_Volume_2.pdf
(Date degli appelli d'esame)
M. Olivieri, “Elementi di Progettazione dei Sistemi VLSI. Volume III: Esercizi di Progetto”. Edizioni EDISES, Napoli. Errata corrige relativo al libro: http://vlsi.die.uniroma1.it/Errata_Corrige_VLSI_Volume_3.pdf Weste and Eshraghian, Principles of CMOS VLSI design. Jan M. Rabaey: Digital Integrated Circuits: a Design Perspective, Prentice Hall. Waine Wolf, Modern VLSI Design, Prentice Hall. Hennessy, J., Patterson, D., Computer Architecture: a quantitative approach, Elsevier. Hennessy, J., Patterson, D., Computer Organization and Design - RISC-V Edition, Elsevier Slides and articles available at: http://vlsi.diet.uniroma1.it Lucidi e articoli disponibili su: http://vlsi.diet.uniroma1.it |
9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
10589483 -
RADIOFREQUENCY ELECTRONIC SYSTEMS
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Il corso si prefigge lo scopo di far acquisire allo studente conoscenze per il progetto di circuiti a radiofrequenza e microonde. Particolare attenzione è posta sul progetto di oscillatori, amplificatori, mixer e filtri.
CAPACITÀ APPLICATIVE. La parte teorica è integrata da tecniche CAD di progettazione e realizzazione di circuiti a radiofrequenza applicati in contesti interdisciplinari quali i radar, le telecomunicazioni e gli apparati biomedicali. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Le attività di progettazione CAD, parte integrante del corso e oggetto di verifica tramite apposita prova pratica progettuale hanno anche l'obiettivo di sviluppare l'autonomia del candidato. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Le attività di progettazione CAD prevedono lavori di gruppo che sviluppano le abilità comunicative e di interazione. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Oltre al materiale didattico fornito, lo studente è stimolato a studiare in un modo autonomo utilizzando la letteratura scientifica messa a disposizione e altro materiale reperibile in rete.
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PISA STEFANO
(programma)
INTRODUZIONE: Esempi di sistemi di telecomunicazione e radar
OSCILLATORI A RF: circuiti risonanti, fattori di merito e perdite, esempi di reti RLC intorno alla risonanza, il coefficiente di stabilità in frequenza, il quarzo come elemento circuitale, rumore di fase. Oscillatori a controreazione: Oscillatori Colpitz, Clapp, Pierce e al quarzo. Il PLL: principio di funzionamento, risposta ad un errore di fase e di frequenza, stabilità, il progetto di un PLL. Oscillatori a resistenza negativa: condizioni di mantenimento, e innesco delle oscillazioni, oscillatori a risonatore dielettrico, oscillatori a risonatore ceramico. AMPLIFICATORI A RF: stabilità, circonferenze di stabilità, fattore di Rollet, calcolo del guadagno di trasduzione, parametri di rumore, amplificatori per il massimo guadagno: dimensionamento a partire da transistors incondizionatamente stabili, realizzazione delle reti di adattamento con elementi distribuiti o concentrati, dimensionamento a partire da transistors condizionatamente stabili, dimensionamento delle reti di stabilizzazione. Amplificatori a bassa figura di rumore. Amplificatori di potenza, parametri e classi degli amplificatori, dimensionamento di amplificatori di potenza in classe A. Progetto a partire da modelli non-lineari o da misure di load pull. MIXER A RF: parametri caratteristici dei mixer Mixer con transistors: BJT, JFET. Mixer con diodi: modello non lineare del diodo schottky, cause e modelli del rumore nei diodi, mixer a singolo diodo, mixer bilanciati. FILTRI A RF: Progetto di filtri a microonde con il metodo del passa basso prototipo di riferimento, realizzazione in tecnologia planare di filtri passa basso MODULATORI E DEMODULATORI: Modulatori e demodulatori AM, SSB, di frequenza. Amplificatore IF e controllo del guadagno. CAD: Esempi CAD Microwave Office, di tutti i circuiti descritti Appunti scaricabili dal sito del corso
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9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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1042008 -
LABORATORIO MULTIDISCIPLINARE DI ELETTRONICA
(obiettivi)
Il modulo affronta i fondamenti delle misure a radiofrequenza e microonde per caratterizzare i dispositivi comunemente usati nei sistemi di telecomunicazione e radar. Sono descritte sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro oltre che varie tecniche di misura (risposta in frequenza, fattore di merito di risonatori, riflettometria nel dominio del tempo, misure di campo a banda stretta). Si discutono anche le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste svariate prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, strutture guidanti, risonatori e componenti discreti R-L-C.
**** Il modulo affronta i fondamenti delle misure che si utilizzano per caratterizzare i dispositivi comunemente utilizzati nei sistemi a microonde. Nel corso è descritta sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro, e sono presentate varie tecniche di misura, le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali cavi coassiali, filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, guide d’onda e risonatori e misure su segnali elementari e su segnali modulati. |
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LABORATORIO I
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Il modulo affronta i fondamenti delle misure a microonde per caratterizzare i dispositivi comunemente usati in una rete a microonde. Sono descritte sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro oltre che varie tecniche di misura (risposta in frequenza, riflettometria nel dominio del tempo). Si discutono anche le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste svariate prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, oscillatori, strutture guidanti, risonatori ed antenne.
CAPACITÀ APPLICATIVE. Gli studenti che abbiano superato l’esame saranno in grado di misure i dispositivi a microonde più comuni sia a 1-porta (e.g. elementi concentrati R-L-C, risonatori, antenne), sia a 2-porte (e.g. attenuatori, cavi, guide d’onda, filtri e amplificatori), sia a 3-porte (e.g. divisori di potenza, circolatori) che a 4-porte (e.g. accoppiatori direzionali). Gli studenti saranno in grado di scegliere tanto lo strumento che la sua configurazione più adatta a caratterizzare il dispositivo con l’incertezza richiesta dalla misura. Infine gli studenti prenderanno confidenza con analizzatori di rete vettoriali e analizzatori di spettro allo stato dell’arte. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Le attività di laboratorio richiedono agli studenti autonomia di giudizio anche se sono sempre condotto sotto la supervisione dei professori. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Le attività di laboratorio sono in gruppo, aiutando gli studenti a migliorare lo spirito collaborativo e la comunicazione. Ogni esperienza è poi documentata da un rapporto scientifico. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Le attività di laboratorio in piccoli gruppi (fino a 3-4 studenti) permettono l’approfondimento delle conoscenze, anche grazie all’interazione con gli altri membri del gruppo.
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PISA STEFANO
(programma)
FONDAMENTI DI MISURE A MICROONDE: Richiami sulla teoria delle linee di trasmissione, sulle strutture guidanti e sulla matrice di scattering di reti N porte. Richiami sulle grandezze e i parametri caratteristici dei circuiti a microonde. Richiami sulla teoria per la valutazione dell’incertezza delle misure.
ANALIZZATORE DI RETI: Analizzatore di reti scalare e vettoriale (VNA) struttura e funzionamento, calibrazione dell’analizzatore di reti, tecniche di calibrazione SOLT, TRL, ANALIZZATORE DI SPETTRO: struttura e funzionamento, parametri degli analizzatori di spettro. MISURE SU RISONATORI: misura di modi in cavità, fattore di qualità ed accoppiamento. MISURE NEL DOMINIO DEL TEMPO: misure dirette ed indirette, filtraggio temporale (gating). MISURE DI CAMPO: misuratori di radiazione, misuratori di campo elettrico, misuratori di campo magnetico, misure di campo a banda stretta. LABORATORIO Misure, utilizzando il VNA, di - dispositivi a 1-porta: elementi concentrati R-L-C, risonatori, antenne; - dispositivi a 2-porte: attenuatori, cavi, guide d’onda, filtri e amplificatori; - dispositivi a 3-porte: divisori di potenza, circolatori; - dispositivi a 4-porte: accoppiatori direzionali; - riflettometria nel dominio del tempo Misure, utilizzando lo SA, di - oscillatori - segnali modulati - campo a banda stretta. Note distrubuite dal docente
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6 | ING-INF/02 | 36 | 24 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ITA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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AAF1587 -
ELEMENTI DI COMUNICAZIONE TECNICO-SCIENTIFICA
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Apprendere gli elementi fondamentali della scrittura tecnico‐scientifica e della
comunicazione interpersonale, strumenti che i laureati in materie scientifiche e tecnologiche in qualsiasi settore impiegano per comunicare dati, fatti, opinioni, raccomandazioni ai colleghi e alla comunità professionale di riferimento. CAPACITÀ APPLICATIVE. Capacità di redigere una tesi, una relazione, un rapporto, un articolo secondo le regole della struttura canonica del testo a partire da una pianificazione degli obiettivi della comunicazione e delle caratteristiche degli interlocutori. Conoscenza di approcci psico‐relazionali per potenziare l’efficacia della presentazione pubblica, gli stimoli della creatività personale e le capacità di supervisione e direzione. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Capacità di valutare in modo critico e competente approcci e soluzioni a problemi di comunicazione tecnico‐scientifica. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Capacità di descrivere problemi e soluzioni adottate per affrontare questioni di comunicazione tecnico‐scientifica. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Capacità di ampliare e approfondire le proprie conoscenze riguardanti tematiche avanzate di comunicazione tecnico‐scientifica.
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MARZANO FRANK SILVIO
(programma)
INTRODUZIONE. Contesto e obiettivi del corso. Organizzazione delle lezioni. SCRITTURA TECNICO-SCIENTIFICA. Elementi storico-culturali. Canale di comunicazione. Pianificazione strategica del testo: funzioni, lettore, organizzazione. Struttura canonica del testo: titolo, riassunto/prefazione, introduzione, corpo, conclusioni, appendici, ringraziamenti, bibliografia. Rappresentazione dei risultati: formule, tabelle, grafici. Ricerca bibliografica, revisione del testo, etica scientifica. Qualità linguistica e scrittura creativa (leggerezza, rapidità, esattezza, visibilità, molteplicità, consistenza). Esempi e applicazioni. Esercitazioni relative a stesura di tesi, rapporti, articoli in ambito tecnico-scientifico. COMUNICAZIONE TECNICO-SCIENTIFICA. Presentazione pubblica: contesti, comportamenti e regole. Pensiero laterale e ragionamento verticale: creatività, paradosso, probabilità, semplicità. Mappe mentali: organizzazione del pensiero, grafi, immagini. Capacità e analisi relazionali: transazioni, copioni, consapevolezza, tipi psicologici. Direzione e supervisione assertiva: efficienza, efficacia, direzione, autostima, ascolto, rischio, critica e retroazioni. Esercitazioni individuali e di gruppo.
Materiale integrativo disponibile sul sito https://cispio.diet.uniroma1.it/marzano/EComTecnoSci.html
(Date degli appelli d'esame)
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1 | 7 | 3 | - | - | Ulteriori attività formative (art.10, comma 5, lettera d) | ITA |
Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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1042008 -
LABORATORIO MULTIDISCIPLINARE DI ELETTRONICA
(obiettivi)
Il modulo affronta i fondamenti delle misure a radiofrequenza e microonde per caratterizzare i dispositivi comunemente usati nei sistemi di telecomunicazione e radar. Sono descritte sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro oltre che varie tecniche di misura (risposta in frequenza, fattore di merito di risonatori, riflettometria nel dominio del tempo, misure di campo a banda stretta). Si discutono anche le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste svariate prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, strutture guidanti, risonatori e componenti discreti R-L-C.
**** Il modulo affronta i fondamenti delle misure che si utilizzano per caratterizzare i dispositivi comunemente utilizzati nei sistemi a microonde. Nel corso è descritta sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro, e sono presentate varie tecniche di misura, le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali cavi coassiali, filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, guide d’onda e risonatori e misure su segnali elementari e su segnali modulati. |
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LABORATORIO II
(obiettivi)
l modulo affronta i fondamenti delle misure a radiofrequenza e microonde per caratterizzare i dispositivi comunemente usati nei sistemi di telecomunicazione e radar. Sono descritte sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro oltre che varie tecniche di misura (risposta in frequenza, fattore di merito di risonatori, riflettometria nel dominio del tempo, misure di campo a banda stretta). Si discutono anche le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste svariate prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, strutture guidanti, risonatori e componenti discreti R-L-C. **** Il modulo affronta i fondamenti delle misure che si utilizzano per caratterizzare i dispositivi comunemente utilizzati nei sistemi a microonde. Nel corso è descritta sia la struttura che il funzionamento dei moderni analizzatori di reti vettoriali e degli analizzatori di spettro, e sono presentate varie tecniche di misura, le tecniche di calibrazione e la valutazione dell’incertezza di misura. Sono previste prove di laboratorio per la misura di componenti tipici quali cavi coassiali, filtri, attenuatori, divisori, accoppiatori direzionali, amplificatori, guide d’onda e risonatori e misure su segnali elementari e su segnali modulati.
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BALSI MARCO
(programma)
REQUISITI DI UTENTE, REQUISITI DI SISTEMA, SPECIFICHE.
ARCHITETTURA DI UN SISTEMA IMMERSO: UNITÀ DI CALCOLO, ACCELERATORI HARDWARE, RETI E BUS, SENSORI, ATTUATORI, CONVERSIONE A/D E D/A, INTERFACCIAMENTO, ALIMENTAZIONE. RICERCA DI MERCATO E SCELTA DI COMPONENTI COMMERCIALI (COTS). EMBEDDED SOFTWARE. SCHEDE BASATE SU FPGA E FIRMWARE. VALIDAZIONE DEL SISTEMA E TEST. CARATTERIZZAZIONE DI RETI DUE-PORTE Misura dei parametri a RF di reti due porte attive e passive ( parametri y, scattering) Misura dei coefficienti di intermodulazione e del coefficiente IIP3 Effetto del punto di lavoro sui parametri caratteristici RF CARATTERIZZAZIONE DEI MIXERS ( RETI TRE PORTE ) Misura dei parametri di scattering a RF Misura dei coefficienti di intermodulazione Punto di compressione CARATTERIZZAZIONE DEGLI OSCILLATORI Misura dei parametri di dinamica Misure spettrali del rumore di fase Misure degli effetti di toni interferenti sulla stabilità degli oscillatori Misura del jitter Caratterizzazione dei parametri di prestazione di PLL MODULAZIONI Misure spettrali dei segnali modulati AM/FM. Il ricevitore radio. Demodulazione AM e FM. Misure spettrali dei formati di modulazione digitali ( QAM , CPM) Effetto del rumore e dei toni interferenti sui segnali modulati. CARATTERIZZAZIONE DEI PARAMETRI PRESTAZIONALI DELLO STRATO FISICO DELLE WLANs Caratterizzazione e misura dei parametri dello strato fisico delle reti WLAN 802.11a,b, g. Misure spettrali dei formati di modulazione OFDM e DS-CDMA Canalizzazione e sincronizzazione. Effetto della saturazione dell’amplificazione di canale sull’errore in ricezione. Effetto del rumore e di tono interferente. Emulazione dell’effetto di multipath. Dispense del corso, schede di laboratorio, datasheet, manuali dei fabbricanti, forniti dal docente e/o disponibili su sito elearning2.uniroma1.it
(Date degli appelli d'esame)
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9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ITA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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A SCELTA DELLO STUDENTE
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12 | 72 | 48 | - | - | Attività formative a scelta dello studente (art.10, comma 5, lettera a) | ITA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
AAF1015 -
PROVA FINALE
(obiettivi)
Caratteristiche della prova finale della Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica
La prova finale consiste nella discussione della tesi di laurea e comporta l'acquisizione di 17 crediti. La tesi di laurea è svolta dal candidato sotto la supervisione di un docente del Consiglio d'Area in Ingegneria Elettronica e costituisce un banco di prova per la verifica delle conoscenze acquisite dallo studente e della sua capacità di approfondirle ed applicarle in modo autonomo in un contesto specifico, contribuendo in prima persona all’identificazione di problemi e all’elaborazione e valutazione di soluzioni. Coordinato con la tesi di laurea per la prova finale, è previsto di norma lo svolgimento di ulteriori attività formative corrispondenti ad 1 credito. |
17 | - | - | - | - | Per la prova finale e la lingua straniera (art.10, comma 5, lettera c) | ITA |
Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | |||||||||||||||||||||||||||
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10589508 -
MICROWAVES
(obiettivi)
GENERALI
Obiettivo del modulo è di fornire allo studente le conoscenze di base concernenti la propagazione guidata dei campi elettromagnetici, e le strutture e i circuiti a microonde. In particolare, scopo del modulo è l’insegnamento dell’analisi a costanti distribuite tipica dei circuiti a microonde, la rassegna delle principali strutture guidanti e dei principali elementi circuitali a microonde, e l’apprendimento della metodologia per lo studio ed analisi di tali elementi SPECIFICI CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Conoscere e saper comprendere gli aspetti metodologici dello studio e caratterizzazione della tecnica delle microonde. CAPACITÀ APPLICATIVE. Saper applicare le tecniche di analisi e sintesi per la progettazione di dispositivi e circuiti a microonde. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Essere in grado di formulare una propria valutazione relativa all’impiego dei componenti e circuiti a microonde nelle applicazioni dell’ICT; essere in grado di raccogliere informazioni aggiuntive per conseguire una maggiore consapevolezza relativa alla propagazione guidata dei campi elettromagnetici e alla loro elaborazione. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Saper descrivere i componenti di base dei circuiti a microonde; saper comunicare le conoscenze acquisite CAPACITÀ DI APPRENDERE. Il corso permetterà di acquisire le tecniche di studio e analisi delle principali strutture di interesse nel campo delle microonde.
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GALLI ALESSANDRO
(programma)
I. Richiami di campi elettromagnetici; II. Applicazioni delle linee di trasmissione e proprietà delle guide d'onda; III. Rappresentazioni circuitali a microonde; IV. Circuiti integrati a microonde;
V. Circuiti risonanti a microonde; VI. Dispositivi passivi a due porte; VII. Strutture di tipo periodico selettive in frequenza e filtri a microonde; VIII. Propagazione in mezzi complessi; IX. Dispositivi a tre o più porte; X. Dispositivi attivi a microonde; XI. Tecniche numeriche per circuiti a microonde; XII. Strumentazione e misure a microonde. D. M . Pozar: "Microwave Engineering"; Wiley, IV ed., 2012.
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CAVAGNARO MARTA
(programma)
Dopo un breve ripasso degli ELEMENTI FONDAMENTALI DI CAMPI ELETTROMAGNETICI, necessari per la comprensione del corso, il programma si struttura in una prima parte dedicata allo studio ed analisi delle STRUTTURE GUIDANTI, e una seconda parte relativa ai COMPONENTI CIRCUITALI A MICROONDE.
La prima parte comincia con l’introduzione delle proprietà fondamentali dei modi elettromagnetici che si propagano nelle strutture guidanti, fornendo così la metodologia di analisi e le proprietà di propagazione del campo elettromagnetico in guida. Quindi, le strutture guidanti più comuni, ovvero guida rettangolare, cavo coassiale e linea a microstriscia vengono presentate e studiate nel dettaglio. Nella seconda parte viene introdotta la matrice di scattering e le sue proprietà, per la rappresentazione circuitale delle giunzioni a microonde. Quindi elementi circuitali quali gli attenuatori e accoppiatori direzionali vengono rappresentati mediante la matrice di scattering, e la loro struttura fisica viene studiata nel dettaglio. Infine, vengono presentati SOFTWARE PER LO STUDIO DI CIRCUITI A MICROONDE. Materiale del corso (slide, dispense, articoli) disponibile sui siti dei docenti
(Date degli appelli d'esame)
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9 | ING-INF/02 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | |||||||||||||||||||||||||||
10589761 -
INTEGRATED ELECTRONIC DEVICES
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE: COMPRENSIONE DEI MODELLI ELETTRICI E ELETTRONICI CHE GOVERNANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE DI BASE E DEI NODI TECNOLOGICI ATTUALI
CAPACITÀ APPLICATIVE. APPLICAZIONE DEI MODELLI DI BASE E DELLO STATO DELL’ARTE PER LA PROGETTAZIONE DI COMPONENTI INNOVATIVI AUTONOMIA DI GIUDIZIO. VALUTAZIONE DEI LIMITI DELLE TECNOLOGIE DI BASE NELLA FABBRICAZIONE DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. ESPRIMERE IN MODO ANALITICO LE EQUAZIONI CHE REGOLANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE CAPACITÀ DI APPRENDERE. ACQUISIZIONE DELLE METODOLOGIE CHE GUIDANO ALLA COMPRENSIONE DEL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORI E ALLO SCALING ALLA MOORE |
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INTEGRATED ELECTRONIC DEVICES
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE: COMPRENSIONE DEI MODELLI ELETTRICI E ELETTRONICI CHE GOVERNANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE DI BASE E DEI NODI TECNOLOGICI ATTUALI
CAPACITÀ APPLICATIVE. APPLICAZIONE DEI MODELLI DI BASE E DELLO STATO DELL’ARTE PER LA PROGETTAZIONE DI COMPONENTI INNOVATIVI AUTONOMIA DI GIUDIZIO. VALUTAZIONE DEI LIMITI DELLE TECNOLOGIE DI BASE NELLA FABBRICAZIONE DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. ESPRIMERE IN MODO ANALITICO LE EQUAZIONI CHE REGOLANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE CAPACITÀ DI APPRENDERE. ACQUISIZIONE DELLE METODOLOGIE CHE GUIDANO ALLA COMPRENSIONE DEL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORI E ALLO SCALING ALLA MOORE
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CAPUTO DOMENICO
(programma)
Fisica dei Semiconduttori: mobilità; scattering; mobilità in un campo elettrico; mobilità in temperatura; curva universale di mobilità; modelli empirici di mobilità in campo trasverso e in campo longitudinale; saturazione della velocità; generalità: livello di Fermi, approssimazione di Maxwell Boltzmann; livelli energetici, centri di ricombinazione, trappole, concentrazioni di portatori; equilibrio termodinamico; legge di azione di massa, approssimazione di quasi neutralità; condizioni di fuori equilibrio; quasi-Fermi levels generazione-ricombinazione all’equilibrio; foto-generazione; interazione luce-silicio. Esercizi.
Componenti a giunzione: contatti metallo semiconduttore (equilibrio termodinamico; costruzione del diagramma a bande; barriera; bending del silicio; svuotamento; campo elettrico; potenziale; Gauss; Poisson 1-D); contatti ohmici; caratteristiche generali delle giunzioni p-n a semiconduttore in equilibrio termodinamico (costruzione del diagramma a bande; potenziale di built-in; svuotamento; campo elettrico; potenziale; Gauss; Poisson 1-D); giunzioni a semiconduttore polarizzate (controllo del potenziale di giunzione; generazione e ricombinazione; soluzione della equazione di continuità in condizioni di svuotamento, accumulazione, neutralità; Schockley-Hall-Read; equaz della corrente); principio di funzionamento del fotodiodo; principio di funzionamento della cella solare a giunzione; concetti base del funzionamento del bjt: efficienza di emettitore; coefficiente di trasporto; guadagno; estrazione dei parametri di Ebers Moll; funzionamento diretto; funz. inverso. Esercizi ed esempi. Sistemi MOS e MOSFET: diagramma a bande; condizioni di svuotamento, arricchimento, inversione, flat-band; tunnel diretto e tunnel Fowler-Nordheim; bending del silicio; Poisson 1-D; carica nell’ossido; carica alle interfacce; MOSFET a canale lungo: VT implant; modelli a canale lungo di approssimazione zero; approssimazione di svuotamento uniforme; svuotamento e canale variabile; equazioni delle correnti; parametri di SPICE; corrente sottosoglia. Problematiche generali dei componenti integrati in tecnologia CMOS; regole di scaling; ITRS e Legge di Moore; introduzione agli effetti di canale corto; introduzione agli effetti di hot carriers; soluzione della equazione Poisson e Gauss in 2-D. "Device electronics for integrated circuits" by Muller and Kamins, Wiley
"Ultra Large Scale Integration in CMOS Technology" by F. Irrera, Efesto Edizioni |
3 | ING-INF/01 | 18 | 12 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | |||||||||||||||||||||||||||
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INTEGRATED ELECTRONIC DEVICES
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE: COMPRENSIONE DEI MODELLI ELETTRICI E ELETTRONICI CHE GOVERNANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE DI BASE E DEI NODI TECNOLOGICI ATTUALI
CAPACITÀ APPLICATIVE. APPLICAZIONE DEI MODELLI DI BASE E DELLO STATO DELL’ARTE PER LA PROGETTAZIONE DI COMPONENTI INNOVATIVI AUTONOMIA DI GIUDIZIO. VALUTAZIONE DEI LIMITI DELLE TECNOLOGIE DI BASE NELLA FABBRICAZIONE DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. ESPRIMERE IN MODO ANALITICO LE EQUAZIONI CHE REGOLANO IL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORE CAPACITÀ DI APPRENDERE. ACQUISIZIONE DELLE METODOLOGIE CHE GUIDANO ALLA COMPRENSIONE DEL FUNZIONAMENTO DEI COMPONENTI A SEMICONDUTTORI E ALLO SCALING ALLA MOORE
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CAPUTO DOMENICO
(programma)
Fisica dei Semiconduttori: mobilità; scattering; mobilità in un campo elettrico; mobilità in temperatura; curva universale di mobilità; modelli empirici di mobilità in campo trasverso e in campo longitudinale; saturazione della velocità; generalità: livello di Fermi, approssimazione di Maxwell Boltzmann; livelli energetici, centri di ricombinazione, trappole, concentrazioni di portatori; equilibrio termodinamico; legge di azione di massa, approssimazione di quasi neutralità; condizioni di fuori equilibrio; quasi-Fermi levels generazione-ricombinazione all’equilibrio; foto-generazione; interazione luce-silicio. Esercizi.
Componenti a giunzione: contatti metallo semiconduttore (equilibrio termodinamico; costruzione del diagramma a bande; barriera; bending del silicio; svuotamento; campo elettrico; potenziale; Gauss; Poisson 1-D); contatti ohmici; caratteristiche generali delle giunzioni p-n a semiconduttore in equilibrio termodinamico (costruzione del diagramma a bande; potenziale di built-in; svuotamento; campo elettrico; potenziale; Gauss; Poisson 1-D); giunzioni a semiconduttore polarizzate (controllo del potenziale di giunzione; generazione e ricombinazione; soluzione della equazione di continuità in condizioni di svuotamento, accumulazione, neutralità; Schockley-Hall-Read; equaz della corrente); principio di funzionamento del fotodiodo; principio di funzionamento della cella solare a giunzione; concetti base del funzionamento del bjt: efficienza di emettitore; coefficiente di trasporto; guadagno; estrazione dei parametri di Ebers Moll; funzionamento diretto; funz. inverso. Esercizi ed esempi. Sistemi MOS e MOSFET: diagramma a bande; condizioni di svuotamento, arricchimento, inversione, flat-band; tunnel diretto e tunnel Fowler-Nordheim; bending del silicio; Poisson 1-D; carica nell’ossido; carica alle interfacce; MOSFET a canale lungo: VT implant; modelli a canale lungo di approssimazione zero; approssimazione di svuotamento uniforme; svuotamento e canale variabile; equazioni delle correnti; parametri di SPICE; corrente sottosoglia. Problematiche generali dei componenti integrati in tecnologia CMOS; regole di scaling; ITRS e Legge di Moore; introduzione agli effetti di canale corto; introduzione agli effetti di hot carriers; soluzione della equazione Poisson e Gauss in 2-D. "Device electronics for integrated circuits" by Muller and Kamins, Wiley
(Date degli appelli d'esame)
"Ultra Large Scale Integration in CMOS Technology" by F. Irrera, Efesto Edizioni |
6 | ING-INF/01 | 36 | 24 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | |||||||||||||||||||||||||||
10589837 -
COMMUNICATION THEORY AND ENGINEERING
(obiettivi)
GENERALI L’obiettivo del corso di Comunicazioni Elettriche II è quello di fornire conoscenze avanzate relative al dimensionamento di sistemi di comunicazione, analizzando in particolare le tematiche relative alla misura dell’informazione e teoria dell’informazione, alla codifica di sorgente e a quella di canale. Il corso ha inoltre l’obiettivo di introdurre a schemi di modulazione avanzati adottati in reti di quarta e quinta generazione. SPECIFICI • Conoscenza e capacità di comprensione: teoria dell’informazione, codifica di sorgente e di canale. Capacità di canale per il singolo collegamento e per sistemi ad accesso multiplo • Capacità di applicare conoscenza e comprensione: analisi dell’informazione trasferibile in sistemi di comunicazione, selezione degli algoritmi di codifica di sorgente e di canale e scelta dei loro parametri. • Autonomia di giudizio: capacità di affrontare un progetto di dimensionamento di un collegamento identificando vincoli e obiettivi imposti sugli indici prestazionali, individuando la soluzione più efficiente per ciascuno dei blocchi della catena che congiunge sorgente e destinazione. • Abilità comunicative: N/A • Capacità di apprendimento: acquisire le conoscenze che permetteranno nel seguito della carriera l’analisi e il confronto di sistemi e reti di comunicazioni in termini di capacità e informazione trasferita |
9 | ING-INF/03 | 54 | 36 | - | - | Attività formative affini ed integrative | ENG | |||||||||||||||||||||||||||
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Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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DIGITAL INTEGRATED SYSTEM ARCHITECTURES
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Circuiti digitali VLSI, progettazione RTL, VHDL, architetture di microprocessori
CAPACITÀ APPLICATIVE. Progetto di circuiti digitali, sintesi su FPGA/ASIC, progetto/programmmazione di microprocessori AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Valutazione delle scelte progettuali e delle tecnologie da utilizzare. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Stesura di specifiche e modelli simulabili. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Qualsiasi successivo approfondimento su circuiti digitali, architetture e programmazione.
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OLIVIERI MAURO
(programma)
NOZIONI E CONCETTI GENERALI
Gli effetti dell’evoluzione tecnologica, Alternative di realizzazione fisica, Nozioni sul layout dei circuiti integrati, Analisi dei costi di produzione dei sistemi integrati IL FLUSSO DI PROGETTO Livelli di astrazione, Diagramma a Y, Strumenti di analisi e verifica del progetto UN LINGUAGGIO PER LA SIMULAZIONE E LA SINTESI DIGITALE Introduzione, Oggetti trattati in VHDL, Modellazione di ritardi, Statement concorrenti, I processi in VHDL, Costrutti di controllo sequenziale nei processi, Procedure e funzioni, Package e librerie, Descrizioni strutturali, Cenno ad altri costrutti potenzialmente utili PROGETTO REGISTER TRANSFER LEVEL DI SISTEMI EMBEDDED “HARDWIRED” Il progetto (sintesi) Register Transfer Level (RTL), Esempio di progetto: un filtro di estrazione contorni per elaborazione di immagini, Approfondimenti sulla temporizzazione (timing) PROGETTO REGISTER TRANSFER LEVEL DI SISTEMI EMBEDDED PROGRAMMABILI Specifica di un microprocessore molto elementare, Progetto RTL del microprocessore, Approfondimenti sulla implementazione del control path, Le leggi quantitative delle prestazioni di un sistema digitale MECCANISMI E POLITICHE DI COMUNICAZIONE NEI SISTEMI INTEGRATI Le problematiche alla base, Comunicazioni on-chip: dai bus alle network-on-chip, Comunicazioni off-chip: l’evoluzione degli standard CONCETTI FONDAMENTALI SULLE MICROARCHITETTURE DEI PROCESSORI Richiami e concetti generali, Regole dell’approccio RISC, Concetti generali sulle architetture post-RISC, Cenni sulle architetture superscalari, Architetture VLIW CIRCUITI COMBINATORI PER MICROPROCESSORI E SISTEMI AD ELEVATE PRESTAZIONI Approfondimenti sui principi delle logiche CMOS, Logica CMOS statica convenzionale, Logiche pseudo-NMOS e DCSVL, Logica a pass-transistor, Logiche dinamiche CIRCUITI DI MEMORIA NEI SISTEMI INTEGRATI Latch e flip flop , Strutture circuitali per memorie STRUTTURE CIRCUITALI PER LA TEMPORIZZAZIONE E IL CONTROLLO DELLE OPERAZIONI Strategie di temporizzazione a livello circuitale, Struttura PLA classica, Un caso di studio di struttura circuitale dedicata SOTTO-SISTEMI DI ELABORAZIONE ARITMETICA Introduzione, Strutture di addizionatori veloci, Strutture di moltiplicatori, Altre unità funzionali fondamentali OTTIMIZZAZIONE DELLE PRESTAZIONI DI VELOCITÀ DEI CIRCUITI LOGICI Introduzione, Un nuovo modello di ritardo delle logiche CMOS, Modello di ritardo e ottimizzazione di logiche multi-stadio, Modellazione del ritardo di unità funzionali complesse ELEMENTI BASILARI DI PROGETTAZIONE A BASSO CONSUMO Richiami e concetti introduttivi, Modelli del consumo dei circuiti CMOS, Tecniche di stima dei consumi, Tecniche basilari di progetto a basso consumo CONCETTI FONDAMENTALI DI PROGETTAZIONE ASINCRONA Nozioni generali di base, Componenti e metodologie per i sistemi self-timed, Unità funzionali dedicate a sistemi con controllo self-timed M. Olivieri, “Elementi di Progettazione dei Sistemi VLSI. Volume II: Architetture, Circuiti e Metodi”. Edizioni EDISES, Napoli. Errata corrige relativo al libro: http://vlsi.die.uniroma1.it/Errata_Corrige_VLSI_Volume_2.pdf
(Date degli appelli d'esame)
M. Olivieri, “Elementi di Progettazione dei Sistemi VLSI. Volume III: Esercizi di Progetto”. Edizioni EDISES, Napoli. Errata corrige relativo al libro: http://vlsi.die.uniroma1.it/Errata_Corrige_VLSI_Volume_3.pdf Weste and Eshraghian, Principles of CMOS VLSI design. Jan M. Rabaey: Digital Integrated Circuits: a Design Perspective, Prentice Hall. Waine Wolf, Modern VLSI Design, Prentice Hall. Hennessy, J., Patterson, D., Computer Architecture: a quantitative approach, Elsevier. Hennessy, J., Patterson, D., Computer Organization and Design - RISC-V Edition, Elsevier Slides and articles available at: http://vlsi.diet.uniroma1.it Lucidi e articoli disponibili su: http://vlsi.diet.uniroma1.it |
9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
10589483 -
RADIOFREQUENCY ELECTRONIC SYSTEMS
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Il corso si prefigge lo scopo di far acquisire allo studente conoscenze per il progetto di circuiti a radiofrequenza e microonde. Particolare attenzione è posta sul progetto di oscillatori, amplificatori, mixer e filtri.
CAPACITÀ APPLICATIVE. La parte teorica è integrata da tecniche CAD di progettazione e realizzazione di circuiti a radiofrequenza applicati in contesti interdisciplinari quali i radar, le telecomunicazioni e gli apparati biomedicali. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Le attività di progettazione CAD, parte integrante del corso e oggetto di verifica tramite apposita prova pratica progettuale hanno anche l'obiettivo di sviluppare l'autonomia del candidato. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Le attività di progettazione CAD prevedono lavori di gruppo che sviluppano le abilità comunicative e di interazione. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Oltre al materiale didattico fornito, lo studente è stimolato a studiare in un modo autonomo utilizzando la letteratura scientifica messa a disposizione e altro materiale reperibile in rete.
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PISA STEFANO
(programma)
INTRODUZIONE: Esempi di sistemi di telecomunicazione e radar
OSCILLATORI A RF: circuiti risonanti, fattori di merito e perdite, esempi di reti RLC intorno alla risonanza, il coefficiente di stabilità in frequenza, il quarzo come elemento circuitale, rumore di fase. Oscillatori a controreazione: Oscillatori Colpitz, Clapp, Pierce e al quarzo. Il PLL: principio di funzionamento, risposta ad un errore di fase e di frequenza, stabilità, il progetto di un PLL. Oscillatori a resistenza negativa: condizioni di mantenimento, e innesco delle oscillazioni, oscillatori a risonatore dielettrico, oscillatori a risonatore ceramico. AMPLIFICATORI A RF: stabilità, circonferenze di stabilità, fattore di Rollet, calcolo del guadagno di trasduzione, parametri di rumore, amplificatori per il massimo guadagno: dimensionamento a partire da transistors incondizionatamente stabili, realizzazione delle reti di adattamento con elementi distribuiti o concentrati, dimensionamento a partire da transistors condizionatamente stabili, dimensionamento delle reti di stabilizzazione. Amplificatori a bassa figura di rumore. Amplificatori di potenza, parametri e classi degli amplificatori, dimensionamento di amplificatori di potenza in classe A. Progetto a partire da modelli non-lineari o da misure di load pull. MIXER A RF: parametri caratteristici dei mixer Mixer con transistors: BJT, JFET. Mixer con diodi: modello non lineare del diodo schottky, cause e modelli del rumore nei diodi, mixer a singolo diodo, mixer bilanciati. FILTRI A RF: Progetto di filtri a microonde con il metodo del passa basso prototipo di riferimento, realizzazione in tecnologia planare di filtri passa basso MODULATORI E DEMODULATORI: Modulatori e demodulatori AM, SSB, di frequenza. Amplificatore IF e controllo del guadagno. CAD: Esempi CAD Microwave Office, di tutti i circuiti descritti Appunti scaricabili dal sito del corso
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9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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10589958 - MULTIDISCIPLINARY LABORATORY OF ELECTRONICS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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MULTIDISCIPLINARY LABORATORY OF ELECTRONICS I
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MOSTACCI ANDREA
(programma)
FONDAMENTI DI MISURE A MICROONDE: Richiami sulle grandezze e i parametri caratteristici dei circuiti a microonde, richiami sulla teoria per la valutazione dell’incertezza delle misure. Rapporto fra la descrizione di reti a microonde con parametri S e costanti concentrate.
ANALIZZATORE DI RETI: Analizzatore di reti scalare e vettoriale (VNA) struttura e funzionamento, calibrazione dell’analizzatore di reti, tecniche di calibrazione SOLT, TRL, misure nel dominio del tempo dirette ed indirette, filtraggio temporale (gating). ANALIZZATORE DI SPETTRO: struttura e funzionamento, parametri degli analizzatori di spettro. MISURE SU RISONATORI: misura di modi in cavità, fattore di qualità ed accoppiamento. MISURE DI CAMPO: misuratori di radiazione, misuratori di campo elettrico, misuratori di campo magnetico, misure di campo a banda larga, misure di campo a banda stretta. LABORATORIO Misure, utilizzando il VNA, di - dispositivi a 1-porta: elementi concentrati R-L-C, risonatori, antenne; - dispositivi a 2-porte: attenuatori, cavi, guide d’onda, filtri e amplificatori; - dispositivi a 3-porte: divisori di potenza, circolatori; - dispositivi a 4-porte: accoppiatori direzionali; - riflettometria nel dominio del tempo Misure, utilizzando lo SA, di - oscillatori - segnali modulati - campo a banda stretta. Note distribuite dal docente
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6 | ING-INF/02 | 36 | 24 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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AAF1880 -
ELEMENTS OF TECHNICAL SCIENTIFIC COMMUNICATION
(obiettivi)
CONOSCENZA E COMPRENSIONE. Apprendere gli elementi fondamentali della scrittura tecnico‐scientifica e della
comunicazione interpersonale, strumenti che i laureati in materie scientifiche e tecnologiche in qualsiasi settore impiegano per comunicare dati, fatti, opinioni, raccomandazioni ai colleghi e alla comunità professionale di riferimento. CAPACITÀ APPLICATIVE. Capacità di redigere una tesi, una relazione, un rapporto, un articolo secondo le regole della struttura canonica del testo a partire da una pianificazione degli obiettivi della comunicazione e delle caratteristiche degli interlocutori. Conoscenza di approcci psico‐relazionali per potenziare l’efficacia della presentazione pubblica, gli stimoli della creatività personale e le capacità di supervisione e direzione. AUTONOMIA DI GIUDIZIO. Capacità di valutare in modo critico e competente approcci e soluzioni a problemi di comunicazione tecnico‐scientifica. ABILITÀ DI COMUNICAZIONE. Capacità di descrivere problemi e soluzioni adottate per affrontare questioni di comunicazione tecnico‐scientifica. CAPACITÀ DI APPRENDERE. Capacità di ampliare e approfondire le proprie conoscenze riguardanti tematiche avanzate di comunicazione tecnico‐scientifica. |
1 | 7 | 3 | - | - | Ulteriori attività formative (art.10, comma 5, lettera d) | ENG |
Insegnamento | CFU | SSD | Ore Lezione | Ore Eserc. | Ore Lab | Ore Studio | Attività | Lingua | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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10589958 - MULTIDISCIPLINARY LABORATORY OF ELECTRONICS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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MULTIDISCIPLINARY LABORATORY OF ELECTRONICS II
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MENICHELLI FRANCESCO
(programma)
USER REQUIREMENTS, SYSTEM REQUIREMENTS, SPECIFICATIONS.
ARCHITECTURE OF A EMBEDDED SYSTEM: COMPUTING UNITS, HARDWARE ACCELERATORS, NETWORKS AND BUSES, SENSORS, ACTUATORS, A/D AND D/A CONVERSION, INTERFACE, POWER. MARKET RESEARCH AND CHOICE OF COMMERCIAL COMPONENTS (COTS). EMBEDDED SOFTWARE. FPGA AND FIRMWARE-BASED CARDS. SYSTEM VALIDATION AND TESTING. CHARACTERIZATION OF TWO-PORT NETWORKS Measure of the RF parameters of two ports active and passive networks ( y parameters, scattering) Measure of the intermodulation coefficients and the IIP3 coefficient Effect of the working point on the parameters characteristic RFCARATTERIZATION OF MIXERS (THREE PORT NETWORKS) Measuring the scattering parameters at RF Measure of Intermodulation point Compression point CHARACTERIZATION OF OSCILLATORS Measure of dynamic parameters Measures of phase noise Measure of the effects of interfering tones on the stability of the oscillators Measure of jitter Characterization of the performance parameters of PLL MODULATIONS Spectral measures of the modulated AM/FM signals. The radio receiver. AM and FM demodulation. Spectral measurements of digital modulation formats (QAM , CPM) Effect of interfering noise and tones on modulated signals. Characterization and measurement of the parameters of the physical layer of WLAN 802.11a,b, g. Spectral measures of OFDM modulation formats and DS-CDMA Chanalization and synchronization. Effect of channel amplification saturation on receive error. Effect of noise and interfering tone. Emulatation of the multipath effect. Course notes, laboratory sheets, datasheets, manufacturer's manuals, provided by the teacher and/or available on the site elearning2.uniroma1.it
(Date degli appelli d'esame)
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9 | ING-INF/01 | 54 | 36 | - | - | Attività formative caratterizzanti | ENG | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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A SCELTA DELLO STUDENTE
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12 | 72 | 48 | - | - | Attività formative a scelta dello studente (art.10, comma 5, lettera a) | ITA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
AAF1015 -
PROVA FINALE
(obiettivi)
Caratteristiche della prova finale della Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica
La prova finale consiste nella discussione della tesi di laurea e comporta l'acquisizione di 17 crediti. La tesi di laurea è svolta dal candidato sotto la supervisione di un docente del Consiglio d'Area in Ingegneria Elettronica e costituisce un banco di prova per la verifica delle conoscenze acquisite dallo studente e della sua capacità di approfondirle ed applicarle in modo autonomo in un contesto specifico, contribuendo in prima persona all’identificazione di problemi e all’elaborazione e valutazione di soluzioni. Coordinato con la tesi di laurea per la prova finale, è previsto di norma lo svolgimento di ulteriori attività formative corrispondenti ad 1 credito. |
17 | - | - | - | - | Per la prova finale e la lingua straniera (art.10, comma 5, lettera c) | ITA |